Zócalo de prueba para dispositivos electrónicos de cuarzo GUT8 Seriesde rodaje
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Características
- Aplicaciones
- para dispositivos electrónicos de cuarzo
- Especificaciones
- de rodaje
Descripción
Enchufe de prueba para dispositivos de cristal (osciladores de cuarzo, MEMS, etc.)
Tipo abierto
Este zócalo de prueba está diseñado para la configuración automatizada de dispositivos y es ideal para la evaluación del rendimiento de componentes como osciladores de cristal.
- Compatible con varios tamaños de encapsulado: 2016, 2520, 3225, 5032, etc
- Optimización de costes y plazos de entrega
- Diseños personalizados disponibles previa solicitud con las especificaciones del dispositivo
Especificaciones (típicas)
Corriente nominal : 0,5A a 25°C
Resistencia de contacto inicial : 200mΩ máx
Tensión de resistencia dieléctrica : AC100V rms 1 min
Resistencia de aislamiento : 1000MΩ min a DC100V
Rango de temperatura : -40 a +150°C
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Catálogos
For Crystal Device GUT8 Series
2 Páginas
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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.