Zócalo de prueba para TO (Transistor Outline) GD26-QDPAK-x-S151X155

Enchufe de prueba para paquete QDPAK - Zócalos de prueba que maximizan el rendimiento de los MOSFET de SiC/GaN - Compatible con las pruebas de fiabilidad THB y HTRB - Contactos propios de alto rendimiento que garantizan la estabilidad en condiciones adversas - La conexión Kelvin (opcional) permite una conmutación rápida y una evaluación precisa Resistencia de los contactos : 50mΩ máx Corriente nominal : 12A a 25°C(entre el drenaje y la fuente) Tensión soportada: DC2000V 1min a 25°C Resistencia de aislamiento : 500MΩmin a DC500V Temperatura de funcionamiento :-40 a +200°C( Incluido el aumento de temperatura debido a la corriente eléctrica) Compatible con : AIMCQ120R020M1T, AIMDQ75R016M1H, etc.