Zócalo de prueba para altas frecuencias

para dispositivo ICpara soldadura por ola

Zócalos de alta frecuencia para evaluación de implementación de LSI Ideales para análisis de fallos, creación de prototipos y pruebas de señales de alta velocidad en placas de evaluación de LSI y placas de circuito impreso de producción. Compatible con PAM4, PCIe Gen5, DDR5, USB 3.0, etc Las sondas ultracortas garantizan un rendimiento de alta frecuencia El montaje directo en los pads originales reproduce las rutas de señal reales Dos tipos disponibles: - Montaje atornillado: - Fácil configuración con mínima modificación de la placa - Hasta 1000 pines, cuerpo compacto de 14,5 mm - Opciones de motor ventilado y disipador de calor - Montaje en superficie: - Soporte de paso de 0,4 mm - Palanca giratoria y disipador de calor incluidos - Apto para uso directo en placas de circuito impreso de producción Admite gestión térmica, ESD y análisis de emisiones Opciones de alojamiento personalizadas disponibles para placas sin orificios de zócalo Ideal para sustitución de dispositivos, desarrollo de software y evaluación