Cámara matricial NS-615A-GE

2Ddigitalindustrial

Descripción
La NS-615A-GE es una cámara SWIR de área basada en un detector InGaAs con corrección de imagen y algoritmos de procesamiento integrados. Proporciona salida digital mediante interfaz GigE, obturador global tipo snapshot y baja potencia de consumo, apta para inspección de semiconductores, clasificación y aplicaciones de visión artificial que requieren imágenes en infrarrojo de onda corta.

Características clave

• Salida digital de bajo ruido
• Interfaz GigE para transmisión de imágenes
• Corrección de imagen y algoritmos de procesamiento a bordo
• Bajo consumo para integración sencilla

Especificaciones (tabla)
Parámetros técnicos: NS-615A-GE

• Sensor: InGaAs
• Rango de respuesta espectral: 0,9 μm – 1,7 μm
• Eficiencia cuántica: ≥70% (1,0–1,6 μm)
• Fill factor óptico: 100%
• Pitch de píxel: 15 μm
• Píxeles activos: 640 × 512
• Operabilidad de píxeles: ≥99,8%
• Frecuencia máxima (matriz completa): 180 Hz
• Profundidad de salida: 14 / 12 / 10 / 8 bit
• Tipo de exposición: Obturador global snapshot
• Tiempo de integración mínimo: 100 μs
• Rango dinámico (típ.): 67 dB (HG)
• Ganancia opcional: 3
• Corriente de oscuridad media: ≤100 ke-/s @ 20℃
• Alimentación: Typ. 12 V
• Consumo típico: <2,5 W (TEC off)
• Interfaz: GigE
• Montura de lente: C-Mount
• Peso del núcleo: 150 ± 5 g
• Dimensiones del núcleo: 46 × 46 × 61 mm
• Temp. de funcionamiento: -40℃ a +60℃
• Temp. de almacenamiento: -40℃ a +85℃
• Control de temperatura: TEC1

Aplicaciones

• Inspección de semiconductores
• Clasificación y control de calidad
• Visión artificial e inspecciones industriales que requieren imagen SWIR

Especificaciones técnicas

• Modelo: NS-615A-GE
• Tipo de sensor: InGaAs
• Respuesta espectral: 0,9–1,7 μm
• Resolución: 640 × 512
• Pitch de píxel: 15 μm
• Interfaz: GigE
• Montura: C-Mount