Uso principalEl EA-XF3500 es un analizador de fluorescencia de rayos X que excita la muestra con rayos X y detecta los rayos X característicos emitidos para proporcionar resultados cualitativos y cuantitativos de sílice y alúmina. Se emplea en industrias como la metalurgia, la minería y los materiales de construcción, y se usa habitualmente en plantas de cemento para medir SiO2 y Al2O3 en materias primas, clínker, piedra caliza y arcilla.
Principales características- Diseño integrado con microordenador, estructura compacta y acabado industrial.
- Pantalla LCD de gran tamaño con menú en inglés para una operación sencilla.
- Análisis rápido: resultados porcentuales de SiO2 y Al2O3 en 60 s (típico).
- Medición no destructiva: las muestras no se destruyen y pueden volver a analizarse.
- No requiere reactivos químicos ni fuente radiactiva; bajo consumo energético y sin emisiones.
- Amplia capacidad de almacenamiento: resultados y registros de autocontrol consultables.
- Cumple GB/T19140 (principios generales del análisis por fluorescencia de rayos X del cemento).
Indicadores técnicos- Rango de análisis: SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
- Precisión (desviación estándar): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%.
- Ancho de análisis: (máx − mín) ≤ 15% para un mismo elemento (ej.: SiO2 materia prima 10%–25%, calibrado según curva de trabajo).
- Tiempo de análisis: n × 60 s (n = 1–5).
- Condiciones de uso: alimentación AC 200V–240V; temperatura ambiente 0–40℃; humedad relativa <85% (a 30℃).
- Consumo total: <30 W.
- Dimensiones (An×Pr×Al): 468 × 368 × 136 mm.
- Peso: 13,8 kg.
Especificaciones técnicas- Modelo / SKU: EA-XF3500
- Elementos medidos: sílice (SiO2) y alúmina (Al2O3)
- Rango de medida: 0,01%–100%
- Precisión (desviación estándar): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%
- Tiempo de análisis típico: 60 s (configurable hasta 5 × 60 s)
- Alimentación: AC 200V–240V
- Consumo de energía: <30 W
- Temperatura de operación: 0–40℃; Humedad relativa: <85% (a 30℃)
- Dimensiones (An×Pr×Al): 468 × 368 × 136 mm
- Peso: 13,8 kg