Espectrómetro XRF EA-XF3500X
de fluorescencia de rayos Xpara la construcciónpara la industria minera

Espectrómetro XRF - EA-XF3500X - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - de fluorescencia de rayos X / para la construcción / para la industria minera
Espectrómetro XRF - EA-XF3500X - Labfreez Instruments Group Co., Ltd - de fluorescencia de rayos X / para la construcción / para la industria minera
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador

Características

Tipo
XRF, de fluorescencia de rayos X
Sector
para la construcción, para la industria minera, para la industria metalúrgica, para análisis elementales
Configuración
compacto, de mesa
Otras características
de lectura directa
Largo

36,8 cm
(14,49 in)

Ancho

46,8 cm
(18,43 in)

Alto

13,6 cm
(5,35 in)

Descripción

Uso principal
El EA-XF3500 es un analizador de fluorescencia de rayos X que excita la muestra con rayos X y detecta los rayos X característicos emitidos para proporcionar resultados cualitativos y cuantitativos de sílice y alúmina. Se emplea en industrias como la metalurgia, la minería y los materiales de construcción, y se usa habitualmente en plantas de cemento para medir SiO2 y Al2O3 en materias primas, clínker, piedra caliza y arcilla.

Principales características
  • Diseño integrado con microordenador, estructura compacta y acabado industrial.
  • Pantalla LCD de gran tamaño con menú en inglés para una operación sencilla.
  • Análisis rápido: resultados porcentuales de SiO2 y Al2O3 en 60 s (típico).
  • Medición no destructiva: las muestras no se destruyen y pueden volver a analizarse.
  • No requiere reactivos químicos ni fuente radiactiva; bajo consumo energético y sin emisiones.
  • Amplia capacidad de almacenamiento: resultados y registros de autocontrol consultables.
  • Cumple GB/T19140 (principios generales del análisis por fluorescencia de rayos X del cemento).

Indicadores técnicos
  • Rango de análisis: SiO2, Al2O3 0,01%–100%.
  • Precisión (desviación estándar): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%.
  • Ancho de análisis: (máx − mín) ≤ 15% para un mismo elemento (ej.: SiO2 materia prima 10%–25%, calibrado según curva de trabajo).
  • Tiempo de análisis: n × 60 s (n = 1–5).
  • Condiciones de uso: alimentación AC 200V–240V; temperatura ambiente 0–40℃; humedad relativa <85% (a 30℃).
  • Consumo total: <30 W.
  • Dimensiones (An×Pr×Al): 468 × 368 × 136 mm.
  • Peso: 13,8 kg.

Especificaciones técnicas
  • Modelo / SKU: EA-XF3500
  • Elementos medidos: sílice (SiO2) y alúmina (Al2O3)
  • Rango de medida: 0,01%–100%
  • Precisión (desviación estándar): SiO2 ≤ 0,10%; Al2O3 ≤ 0,08%
  • Tiempo de análisis típico: 60 s (configurable hasta 5 × 60 s)
  • Alimentación: AC 200V–240V
  • Consumo de energía: <30 W
  • Temperatura de operación: 0–40℃; Humedad relativa: <85% (a 30℃)
  • Dimensiones (An×Pr×Al): 468 × 368 × 136 mm
  • Peso: 13,8 kg

Catálogos

No hay ningún catálogo disponible para este producto.

Ver todos los catálogos de Labfreez Instruments Group Co., Ltd

Otros productos de Labfreez Instruments Group Co., Ltd

Analysis Instruments

* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.