Microscopios de electrones secundarios Thermo Fisher Scientific

Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 2, 10, 3 nm

... Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de ...

Resolución espacial: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Peso: 5 kg

... y el análisis 3D avanzado de alta resolución a escala nanométrica. Imágenes de electrones retrodispersados y de electrones secundarios La innovadora columna de electrones ...

Resolución espacial: 7, 3 nm
Peso: 5 kg

... Microscopio electrónico de barrido para investigación y desarrollo industrial con capacidad de microscopio electrónico de barrido ambiental. Microscopio electrónico de barrido ambiental El ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 µm - 10 µm

... Aplicaciones del SEM de sobremesa Phenom XL G2 El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa Thermo Scientific Phenom XL G2 de última generación automatiza su proceso de control de calidad, ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... Desktop SEM para un análisis SEM robusto y sin esfuerzo, ampliando su capacidad de investigación. MEB de sobremesa Phenom Pro La sexta generación del SEM de sobremesa Thermo Scientific ...

Aumento: 160 unit - 350.000 unit
Resolución espacial: 8, 6 nm

... SEM de sobremesa con capacidad EDS para un análisis elemental y SEM robusto, sin esfuerzo y versátil. MEB de sobremesa Phenom con difracción de rayos X de energía dispersiva La sexta generación del SEM ...

Aumento: 160 unit - 175.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 15 nm

... Personalice su SEM El SEM de sobremesa Phenom Pure puede equiparse con dos sistemas detectores opcionales. El primero es un sistema de espectroscopia de energía dispersiva (EDS) totalmente integrado. ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... necesitan imágenes SEM de alta resolución con análisis EDS para química. Cuando está totalmente automatizada, esta combinación es una potente herramienta para la inspección de la calidad del polvo. Principales características ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 0 nm - 10 nm

... 16232 o ISO 4406/4407. Detector de electrones secundarios El SEM de sobremesa Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) dispone opcionalmente de un detector de electrones ...

Aumento: 160 unit - 200.000 unit
Resolución espacial: 10 nm

... SEM de sobremesa para análisis de fabricación aditiva, capaz de observar muestras grandes de hasta 100 mm x 100 mm. Análisis de fabricación aditiva El microscopio electrónico de barrido (SEM) de sobremesa ...