Instrumento de caracterización dieléctrico

Descripción general

El sistema de medida dieléctrica es una plataforma de análisis de impedancia/ dieléctrico con control de temperatura para la caracterización eléctrica de materiales aislantes y funcionales en una amplia gama de temperaturas y frecuencias. Soporta mediciones continuas y de alta velocidad y puede ampliarse para ensayos adicionales como ensayo de ruptura y TSDC.

Parámetros de medida

• Rango de temperatura: -185°C a 600°C
• Precisión de control de temperatura: ±0,25°C
• Tasa de calentamiento: hasta 10°C/min (configurable)
• Tamaño de muestra: φ < 25 mm; espesor < 4 mm
• Material de electrodos: Platino
• Material auxiliar de sujeción: Cerámica de nitruro de aluminio
• Frecuencia de prueba: 20 Hz – 10 MHz (capacidad hasta 30 MHz según configuración)
• Refrigeración en baja temperatura: Nitrógeno líquido
• Método de calentamiento: Calentamiento por electrodos en CC
• Método de enfriamiento: Enfriamiento por agua
• Transmisión de datos: RS-232
• Voltaje de entrada: 110–220 V
• Tamaño del equipo: 180 mm × 210 mm × 50 mm

Características

• Calentamiento por electrodos en CC y filtrado para eliminar interferencias armónicas de la red y mejorar la estabilidad de la medición.
• Método de medición de tres electrodos y cables con adaptación de impedancia para reducir errores por la impedancia de los conductores y las limitaciones de blindaje a alta temperatura.
• Medición optimizada de la temperatura de la muestra y diseño de electrodos (por ejemplo, recubrimientos conductores sputter) para minimizar la capacitancia parásita y los efectos espaciales.
• Arquitectura ampliable para funciones adicionales como ensayos de ruptura y Corriente de Despolarización Termoestimulada (TSDC).

Software operativo

• Software basado en LabVIEW: estable, guarda datos en caso de corte de energía y datos de imagen; compatible con Windows XP, 7 y 10.
• Interfaz multilingüe: admite chino e inglés.
• Monitorización en tiempo real, leyendas/íconos de estado, gestión de permisos de usuario y alarma de fallo de equipo.
• Informes personalizables con impresión con un clic y exportación a Excel y PDF; curvas e imágenes de medida pueden guardarse.
• Compatibilidad con analizadores de impedancia Keysight (E4990, E4991, E4980A), Wayne Kerr (6500B, 6530, 4235), Tonghui (2983, 2838, 2851) y otros equipos similares.

Parámetros medidos y funciones de ensayo

• Espectro dieléctrico en función de la temperatura y espectro en frecuencia.
• Magnitudes eléctricas medidas: ε' (real) y ε'' (imaginaria) de la permitividad; C' y C'' componentes real/imaginar de la capacitancia; pérdida D; R' y R'' resistencia; Z (Z', Z'') impedancia; Y (Y', Y'') admitancia; X reactancia; factor de calidad Q; diagrama de Cole‑Cole; coeficiente de acoplamiento electromecánico Kp.
• Selección de modo: modos paralelo y serie según el circuito equivalente.
• Frecuencia de medida: configurable mediante software.
• Procesamiento de datos e imágenes: datos de medida y curvas exportables y guardables.

Especificaciones técnicas

• Rango de temperatura: -185°C a 600°C
• Precisión de control de temperatura: ±0,25°C
• Tasa de rampa térmica: hasta 10°C/min (ajustable)
• Tamaño de muestra: φ < 25 mm; espesor < 4 mm
• Material de electrodos: Platino
• Material auxiliar de sujeción: Cerámica de nitruro de aluminio
• Método de calentamiento: Calentamiento por electrodos DC
• Refrigeración en baja temperatura: Nitrógeno líquido
• Método de enfriamiento: Enfriamiento por agua
• Frecuencia de prueba (típica): 20 Hz – 10 MHz; capacidad hasta 30 MHz (dependiente de la configuración)
• Transmisión de datos: RS-232
• Voltaje de entrada: 110–220 V
• Tamaño del equipo: 180 mm × 210 mm × 50 mm