Sistema de prueba resistividad DXHCR1100

de procesopara semiconductorespara celdas de combustible

Resumen del producto
Los instrumentos Dexinmag miden la interacción termoeléctrica (efectos Seebeck, Peltier, Thomson) adquiriendo simultáneamente el coeficiente Seebeck y la resistividad desde la temperatura ambiente (RT) hasta 1500°C. La fuerza termoeléctrica (coeficiente Seebeck) se expresa en V/K y depende de la temperatura. La plataforma DXHCR1100 admite atmósferas controladas y geometrías de muestra flexibles para I+D y control de calidad.

Áreas de aplicación

• Desarrollo de materiales termoeléctricos: medición de coeficiente Seebeck y conductividad eléctrica para semiconductores, skutteruditas y otros materiales TE; cálculo de ZT y evaluación a alta temperatura hasta 1500°C o en atmósferas controladas (vacío/reductora/oxidante).
• Caracterización de materiales electrónicos y funcionales: estudios de transporte eléctrico en películas semiconductoras, polímeros conductores y óxidos metálicos; curvas resistencia‑temperatura de superconductores HT y composites cerámicos.
• Materiales y dispositivos energéticos: análisis de resistividad y características de contacto/interfaz para electrodos Li‑ion y electrolitos sólidos; pruebas de conductividad de catalizadores de pilas de combustible en diferentes atmósferas.
• Control industrial y optimización de procesos: ensayos termoeléctricos de aleaciones, cerámicas y materiales de carbono para guiar el sinterizado; evaluación de recubrimientos y materiales resistentes a altas temperaturas y corrosión.
• Investigación académica y pruebas normalizadas: plataforma adecuada para universidades, institutos de investigación y ensayos de certificación según normas (p. ej. ASTM E1225).

Funciones de ensayo

• Software de medición inteligente integrado (Windows 10/11) para excitación automática, adquisición de datos, procesamiento en tiempo real y exportación de resultados.
• Edición de plantillas y entrada mínima de parámetros para flujos de medición repetibles.
• Adquisición y análisis en tiempo real, comparación de hasta 32 curvas, sustracción y superposición de curvas.
• Herramientas de análisis avanzadas: zoom de curvas, derivadas primera/segunda, análisis multi‑picos y soporte para métodos complementarios (DSC, TG, TMA, DIL).
• Calibración multipunto de temperatura y rutinas de entalpía/flujo de calor Cp; importación/exportación ASCII y exportación a MS Excel.
• Control secuenciado de señal y soporte para experimentos de larga duración.

Ventajas del producto

• Amplio rango de temperatura y atmósferas controladas: RT a 800/1100/1500°C (opciones); compatible con atmósferas inertes, oxidantes, reductoras y en vacío.
• Alta precisión y modos integrados de medición: rango Seebeck 1–2500 μV/K (precisión ±7%, repetibilidad ±3%); conductividad eléctrica 0,01–2×10⁵ S/cm (precisión ±5–8%, reproducibilidad ±3%). Métodos de medida: DC estático para Seebeck, cuatro sondas para resistividad.
• Manipulación flexible de muestras: admite cilindros (φ6 mm × 23 mm), prismas (2–5 mm ancho × 23 mm) y discos (10 / 12,7 / 25,4 mm); separación de sondas ajustable 4/6/8 mm y sujeción tipo sandwich.
• Estabilidad a largo plazo y operación a alta temperatura: fuente 0–1 A con salida estable; electrodos en níquel (−100–500°C) o platino (−100–1500°C); termopares K/S/C y control en lazo cerrado.

Especificaciones del producto

• Modelo: DXHCR1100
• Rango de temperatura: RT a 800/1100/1500°C (configurable)
• Principios de medida: Seebeck — DC estático; Resistividad — cuatro sondas
• Atmósferas: inerte, oxidante, reductora, vacío
• Sujeción de muestra: prensa tipo sandwich entre dos electrodos
• Dimensiones compatibles: cilindro φ6×23 mm; prisma 2–5 mm × 23 mm; discos 10 / 12,7 / 25,4 mm
• Separación de sondas ajustable: 4 / 6 / 8 mm
• Rango Seebeck: 1–2500 μV/K (±7% precisión, ±3% repetibilidad)
• Rango de conductividad eléctrica: 0,01–2×10⁵ S/cm (±5–8% precisión, ±3% reproducibilidad)
• Alimentación: 0–1 A (salida estable)
• Material de electrodos: Níquel (−100 a 500°C) / Platino (−100 a +1500°C)
• Termopares: tipos K / S / C

Especificaciones técnicas

• Modelo: DXHCR1100
• Opciones de temperatura: RT–800/1100/1500°C
• Método Seebeck: DC estático
• Método resistividad: cuatro sondas
• Atmósferas compatibles: inerte, oxidante, reductora, vacío
• Separación de sondas: 4 / 6 / 8 mm
• Tipos de muestra: cilindros, prismas, discos (dimensiones arriba)