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Sistema de inspección óptico Galaxy 4Cχ
con cámaraautomáticode medición

Sistema de inspección óptico - Galaxy 4Cχ - CIMS - con cámara / automático / de medición
Sistema de inspección óptico - Galaxy 4Cχ - CIMS - con cámara / automático / de medición
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Características

Tecnología
con cámara, óptico
Especificaciones
automático
Tipo
para detección de fallos, de medición
Aplicaciones
para la producción, para la industria electrónica
Uso previsto
para obleas
Configuración
en línea
Otras características
de alta resolución, sin contacto

Descripción

Descripción
  • Inspección óptica automatizada (AOI) para sustratos IC con resolución mínima línea/espacio hasta 4 µm.
  • Galaxy 4Cχ es la última generación de sistemas AOI de CIMS, equipada con cámara en color y óptica Prisma™ Gen II para adquisición de imágenes de alto contraste a velocidad de producción.
  • Diseñada para soportar fabricación en volumen de sustratos IC de nueva generación, combinando imágenes de alta resolución y algoritmos de detección configurables impulsados por Spark™ 3.0.
  • Opciones modulares y paquetes de metrología permiten flujos de trabajo de inspección y medición en línea para paneles y elementos de circuito.


Puntos destacados
  • Motores lineales para movimiento suave y silencioso
  • Plataforma mecánica compacta para integración en fábrica
  • Arquitectura de hardware de 6ª generación
  • Bloque de iluminación mejorado con opción X-WAVE™ multi-onda
  • Configuración rápida e intuitiva para nuevos trabajos
  • Compatible con automatización frontal AMHS o manipulación por robot


Opciones
  • Fi™ — opción de inspección final para placas terminadas
  • +2DM™ metrología — medida de dimensiones de panel
  • +2CD™ metrología — medida 2D de elementos de circuito
  • +3DH™ metrología — medida 3D de la altura de elementos
  • +3DP™ metrología — perfilado 3D de elementos de circuito
  • LDI™ — opción de inspección de taladrado láser
  • CDB™/CDBIC™ — clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
  • VVS™ — sistema de verificación virtual
  • X-WAVE™ — iluminación multi-onda


Especificaciones técnicas
  • Aplicación: Inspección óptica automatizada (AOI) para sustratos IC
  • Resolución mínima línea/espacio: 4 µm
  • Cámara: Cámara en color
  • Tecnología óptica: Prisma™ Gen II
  • Motor de detección: Spark™ 3.0 (cross-platform)
  • Sistema de movimiento: Motores lineales para movimiento suave y silencioso
  • Mecánica: Plataforma compacta para disposición en fábrica
  • Generación de hardware: Hardware de 6ª generación
  • Iluminación: Bloque de iluminación mejorado (X-WAVE™ opcional)
  • Compatibilidad de automatización: AMHS frontal o robot
  • Opciones de metrología: +2DM™, +2CD™, +3DH™, +3DP™
  • Otras opciones: Fi™ inspección final, LDI™ inspección de perforación láser, CDB™/CDBIC™ clasificación de defectos, VVS™ verificación virtual

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.