DescripciónGalaxy Fi 15Cμ es un sistema de inspección final basado en paneles, diseñado para la inspección final de sustratos IC estándar, PCB HDI y MLB. Está equipado con una cámara a color de alta resolución y una óptica optimizada para resolver hasta 15 µm línea/espacio, asegurando alto contraste en máscara de soldadura, cobre chapado, chapado en oro/OTC y laminado desnudo.
Puntos destacados- Motores lineales para movimiento suave y silencioso
- Estructura mecánica robusta con mesa de vacío automatizada
- Adquisición y procesamiento de imagen de alto rendimiento
- Arquitectura informática de nueva generación para procesar grandes volúmenes de datos
- Configuración rápida e intuitiva de trabajos para reducir tiempos de cambio
- Compatible con automatización AMHS frontal/trasera o integración con robot
Opciones- +2DM™ metrología – medida de dimensiones de panel
- +2CD™ metrología – medida 2D de elementos de circuito
- +3DH™ metrología – medidas 3D de altura de elementos de circuito
- +3DP™ metrología – perfilado 3D de elementos de circuito
- CDB™/CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
- X-WAVE™ – iluminación multi-longitud de onda
Especificaciones técnicas- Aplicación: Inspección final de paneles para sustratos IC estándar, PCB HDI y MLB
- Resolución mínima resoluble línea/espacio: 15 µm
- Imágenes: Cámara a color con adquisición de alta resolución
- Rendimiento óptico: Optimizado para máximo contraste en máscara de soldadura, cobre chapado, chapado en oro/OTC y laminado desnudo
- Motor de detección: Spark™ 3.0 cross-platform detection engine
- Sistema de movimiento: Motores lineales para movimiento suave y silencioso
- Mecánica: Estructura mecánica robusta con mesa de vacío automatizada
- Procesamiento: Firmware de procesamiento de imagen de alto rendimiento y ordenador de nueva generación para grandes volúmenes de datos
- Usabilidad: Configuración rápida e intuitiva para nuevos trabajos
- Automatización: Compatible con automatización AMHS frontal/trasera o robot
- Funciones opcionales de metrología e inspección: 2DM™, 2CD™, 3DH™, 3DP™, CDB™/CDBIC™, X-WAVE™