DescripciónEstación de verificación AOI en modo híbrido para sustratos IC, con soporte de líneas/espacios mínimos hasta 4 µm. VVR combina la verificación virtual (imágenes AOI post-procesadas) y el modo de vídeo en vivo en una única estación, diseñada para producción de alta volumen de sustratos IC. Series: VVR 4μ, VVR 5μ, VVR 7μ, VVR 10μ y VVR 15μ.
Puntos destacados- Verificación integrada de imágenes AOI post-procesadas y vídeo en vivo
- Hasta un 70% de aumento en la eficiencia de verificación frente a modos tradicionales
- Visualización de imágenes de defectos en color post-procesadas directamente desde el AOI
- Zoom variable y calibración automática para inspecciones repetibles
- Placa de vacío fija para sujeción segura del sustrato
- Diseño ergonómico de la estación
- Imágenes claras de defectos con iluminación de vídeo ajustable
Opciones- Auto-marker para marcado automático de defectos
- Lector de códigos de barras para trazabilidad
- Brazo para monitor ajustable
- CDB™/CDBIC™ — clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
- SharpLight™ — mejora de la imagen de vídeo
- Pantalla táctil opcional para clasificación por operador y retroalimentación QA en tiempo real
Características / especificaciones técnicas- Tipo de producto: Estación de verificación AOI en modo híbrido para sustratos IC
- Línea/espacio mínimo soportado: hasta 4 µm
- Modelos de la serie: VVR 4μ, VVR 5μ, VVR 7μ, VVR 10μ, VVR 15μ
- Modos de verificación: verificación virtual (imágenes AOI post-procesadas) y modo de vídeo en vivo
- Procesamiento de imagen: algoritmos avanzados de mejora de imagen; imágenes de defectos en color post-procesadas
- Mejora de eficiencia: hasta 70% vs modo de verificación tradicional
- Óptica/características: zoom variable, calibración automática, iluminación de vídeo ajustable, opción SharpLight™
- Mecánica: placa de vacío estacionaria, diseño ergonómico, brazo de monitor ajustable (opción)
- Trazabilidad/marcado: opción Auto-marker, opción lector de códigos de barras
- Software/opciones: CDB™/CDBIC™ para clasificación de defectos y mapeo virtual
- Integración: compatible con todos los sistemas AOI CIMS