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Sistema de inspección óptico Galaxy PVH
automatizadode medición de nivelpara detección de fallos

Sistema de inspección óptico - Galaxy PVH - CIMS - automatizado / de medición de nivel / para detección de fallos
Sistema de inspección óptico - Galaxy PVH - CIMS - automatizado / de medición de nivel / para detección de fallos
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Características

Tecnología
óptico
Especificaciones
automatizado
Tipo
para detección de fallos, de medición de nivel
Aplicaciones
para la industria electrónica, para PCB
Otras características
controlado por ordenador, sin contacto

Descripción

Descripción
Galaxy PVH es un sistema AOI para la inspección de vías obturadas (PVH) con un diámetro mínimo inspeccionable de 75 µm. Inspecciona tanto orificios pasantes rellenos de resina como vías perforadas por láser en un mismo panel de PCB, soportando producción a gran volumen en MLB y PCB HDI. La opción PVH amplía las capacidades AOI para vías mecánicas y láser y detecta de forma fiable defectos dentro de los taladros rellenados.

Puntos destacados
  • Excelente detección de defectos en taladros rellenos de resina
  • Motores lineales para movimiento suave y silencioso
  • Construido sobre la plataforma compacta Galaxy
  • Firmware de procesamiento de imagen de alto rendimiento
  • Procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Configuración rápida e intuitiva de nuevos trabajos
  • Salida estadística completa para control de proceso


Opciones
  • Paquete estadístico para análisis de desplazamiento de taladro y violaciones de diámetro
  • CDB™/CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo de defectos virtuales
  • VVS™ – sistema de verificación virtual


Especificaciones técnicas
  • Tipo de producto: sistema AOI para vías obturadas (PVH)
  • Diámetro mínimo inspeccionable: 75 µm
  • Inspecciona tanto orificios pasantes rellenos de resina como vías láser rellenas en el mismo panel
  • Mercados/aplicaciones objetivo: fabricación en gran volumen de MLB y PCB HDI
  • Tecnología óptica: Microlight™ para cobertura lumínica optimizada
  • Detección: algoritmos de detección personalizables para detección rigurosa de defectos
  • Mecánica: motores lineales para movimiento suave y silencioso
  • Plataforma: construido sobre la plataforma compacta Galaxy
  • Procesamiento: firmware de procesamiento de imagen de alto rendimiento y procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Configuración: puesta a punto de trabajos rápida e intuitiva
  • Datos y control: paquetes estadísticos potentes que proporcionan control de proceso en tiempo real y calibración de herramientas de taladrado láser
  • Opciones disponibles: paquete estadístico para desplazamiento/violaciones de diámetro, clasificación CDB™/CDBIC™ y mapeo de defectos virtuales, verificación virtual VVS™

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.