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Sistema de inspección óptico Phoenix PT+
con cámaraautomatizadode superficies de cristal

Sistema de inspección óptico - Phoenix PT+ - CIMS - con cámara / automatizado / de superficies de cristal
Sistema de inspección óptico - Phoenix PT+ - CIMS - con cámara / automatizado / de superficies de cristal
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Características

Tecnología
con cámara, óptico
Especificaciones
automatizado
Tipo
de superficies de cristal
Aplicaciones
para la industria electrónica
Uso previsto
de film
Otras características
de alta resolución, controlado por ordenador, sin contacto

Descripción

Descripción
Phoenix PT+, sistema CIMS AOI, está diseñado para inspeccionar fototools de alta resolución como obras de arte en película y máscaras de vidrio. Es capaz de escanear hasta 12,5 µm de ancho línea/espacio. Dado que las máscaras se utilizan con luz transmisiva, Phoenix PT+ implementa la misma trayectoria de iluminación para la inspección, garantizando la detección fiable de defectos que podrían transferirse a paneles producidos con máscaras defectuosas. El sistema combina alta calidad de imagen con algoritmos de detección personalizables. Equipado con hardware de adquisición de imagen de última generación y software avanzado, la familia Phoenix proporciona un rendimiento de detección elevado con una baja tasa de falsas alarmas. Phoenix PT+ funciona con Spark™ — un motor de detección multiplataforma.

Puntos destacados
  • Placa de vidrio clara o mate
  • Compatible con una amplia gama de marcos
  • Apto tanto para máscaras de vidrio como para obras de arte en película
  • Estructura mecánica robusta
  • Diseño altamente ergonómico
  • Firmware de procesamiento de imágenes de alto rendimiento
  • Procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Configuración rápida e intuitiva para nuevos trabajos

Opciones
  • Varias dimensiones de marcos para máscaras de vidrio
  • Adaptador de marco universal
  • Seguimiento de altura integrado
  • +2CD™ metrología – medición 2D de elementos de circuito
  • CDB™/CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos

Especificaciones técnicas
  • Ancho línea/espacio detectable mínimo: 12,5 µm
  • Objeto de inspección: fototools de alta resolución, incluidas obras de arte en película y máscaras de vidrio
  • Iluminación / trayectoria óptica: inspección con luz transmisiva (misma trayectoria de luz que se usa en la aplicación de máscaras)
  • Placa: placa de vidrio clara o mate
  • Compatibilidad de marcos: compatible con una amplia gama de marcos; varias dimensiones de marcos para máscaras de vidrio disponibles como opción
  • Mecánica: estructura mecánica robusta con diseño altamente ergonómico
  • Adquisición de imagen: hardware de adquisición de imagen de última generación
  • Procesamiento: firmware de procesamiento de imágenes de alto rendimiento y procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Software / motor de detección: potenciado por el motor de detección multiplataforma Spark™ con algoritmos de detección personalizables
  • Configuración: configuración rápida e intuitiva para nuevos trabajos
  • Metrología y clasificación opcionales: +2CD™ metrología 2D, CDB™/CDBIC™ clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
  • Hardware opcional: adaptador de marco universal, seguimiento de altura integrado

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.