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Sistema de inspección óptico Galaxy VIA series
por vídeocon cámarade medición

Sistema de inspección óptico - Galaxy VIA series - CIMS - por vídeo / con cámara / de medición
Sistema de inspección óptico - Galaxy VIA series - CIMS - por vídeo / con cámara / de medición
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Características

Tecnología
con cámara, óptico, por vídeo
Tipo
de control de calidad, para detección de fallos, de detección de agujeros, de medición
Aplicaciones
para la industria electrónica, para PCB
Otras características
LED

Descripción

Descripción
Sistemas AOI para inspección de vias láser pasantes con diámetro mínimo detectable hasta 20 µm. Galaxy VIA series representa la familia de modelos diseñada para soportar la inspección de vias láser pasantes en fabricación de alto volumen de substratos HDI o IC avanzados. Los sistemas de esta familia incluyen los siguientes modelos:
  • Galaxy VIA 20µ para inspección de orificios via hasta 20 µm de diámetro
  • Galaxy VIA 25µ para inspección de orificios via hasta 25 µm de diámetro
  • Galaxy VIA 30µ para inspección de orificios via hasta 30 µm de diámetro

La iluminación de los sistemas se basa en la tecnología ViaLight™ que proporciona una fuente de luz transmisiva integrada en la mesa de escaneo. La iluminación opcional Microlight™ ofrece cobertura de iluminación superior simultánea, asegurando la adquisición más precisa y completa de la forma externa e interna de un via pasante.
Los sistemas de la serie Galaxy VIA pueden inspeccionar perforaciones por láser pasantes con diámetros tan pequeños como 20 micras y pueden detectar defectos por subdimensionado y sobredimensionado, contaminación y residuos en el interior, orificios taponados o ausentes, así como desplazamientos de perforación fuera de la tolerancia permitida.
Paquetes estadísticos potentes amplían aún más las capacidades de la serie Galaxy VIA proporcionando control de proceso en tiempo real utilizado para la calibración de herramientas de perforación láser.

Puntos destacados
  • Motores lineales para movimiento suave y silencioso
  • Construido sobre la plataforma compacta Galaxy
  • Iluminación LED integrada en la mesa con tecnología ViaLight™
  • Firmware de procesamiento de imagen de alto rendimiento
  • Procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Configuración rápida e intuitiva para nuevos trabajos
  • Salida estadística potente

Opciones
  • Bloque de iluminación superior Microlight™
  • Paquete estadístico avanzado para calcular desplazamientos de perforación y violaciones de diámetro
  • CDB™/CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
  • VVS™ – sistema de verificación virtual

Características / especificaciones técnicas
  • Nombre de la serie: Galaxy VIA series
  • Modelos disponibles y diámetros mínimos detectables: Galaxy VIA 20µ (20 µm), Galaxy VIA 25µ (25 µm), Galaxy VIA 30µ (30 µm)
  • Iluminación: iluminación LED transmisiva integrada en la mesa ViaLight™; Microlight™ superior opcional para iluminación superior simultánea
  • Capacidades de detección: vias subdimensionadas y sobredimensionadas, contaminación y residuos dentro de las vias, orificios taponados, orificios ausentes, desplazamientos de perforación fuera de tolerancia
  • Movimiento: motores lineales para un movimiento suave y silencioso
  • Plataforma: plataforma compacta Galaxy
  • Procesamiento: firmware de procesamiento de imagen de alto rendimiento y procesadores potentes para manejar grandes volúmenes de datos
  • Configuración: configuración de trabajos rápida e intuitiva
  • Estadísticas & control de proceso: paquetes estadísticos potentes para control de proceso en tiempo real y calibración de herramientas de perforación láser; paquete opcional para cálculo de desplazamientos de perforación y violaciones de diámetro
  • Opciones de software: CDB™/CDBIC™ (clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos), VVS™ (sistema de verificación virtual)

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.