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Sistema de inspección óptico AIVR 10μ
por vídeocon cámaraIA

Sistema de inspección óptico - AIVR 10μ - CIMS - por vídeo / con cámara / IA
Sistema de inspección óptico - AIVR 10μ - CIMS - por vídeo / con cámara / IA
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Características

Tecnología
con cámara, óptico, IA, por vídeo
Tipo
de control de calidad, para detección de fallos, visual, de vídeo, de colores
Aplicaciones
para la industria electrónica, para PCB
Otras características
de alta resolución

Descripción

Descripción Estación de verificación AOI potenciada por IA para sustratos HDI e IC con línea/espacio mínima hasta 10 μm. AIVR combina verificación virtual (imágenes AOI postprocesadas) y verificación física (vídeo en directo) en una única estación de trabajo. AIVR 10μ está diseñada para soportar fabricación de alto volumen de sustratos HDI e IC y está optimizada para verificación de tecnologías con línea/espacio de 10–25 μm. En modo AIVR, el operador revisa imágenes de defectos capturadas por el AOI y procesadas con algoritmos de mejora de imagen basados en IA, lo que permite filtrar rápidamente las llamadas falsas evidentes. El sistema mejora la eficiencia y la velocidad de verificación e integra los resultados con la base de datos de forma fluida. Los usuarios pueden clasificar defectos mediante una pantalla táctil opcional para proporcionar retroalimentación crítica a QA en tiempo real. AIVR 10μ es compatible con todos los AOI CIMS.

Puntos destacados
  • Combina verificación de imágenes AOI postprocesadas con modo de vídeo en directo
  • Hasta un 90% de incremento en eficiencia de verificación frente al modo tradicional
  • Muestra imágenes de defecto en color y alta resolución mejoradas por IA, capturadas directamente desde el AOI
  • Zoom variable y calibración automatizada
  • Mesada con vacío fija
  • Diseño ergonómico
  • Imagen de defecto nítida y luz de vídeo ajustable

Opciones
  • Marcador automático para marcar defectos
  • Lector de códigos de barras
  • Brazo de monitor ajustable
  • CDB™ / CDBIC™ – clasificación de defectos y mapeo virtual de defectos
  • SharpLight™ – imagen de vídeo mejorada

Características / especificaciones técnicas
  • Familia de producto: AIVR
  • Aplicación: verificación AOI para sustratos HDI e IC
  • Línea/espacio mínimo soportado: hasta 10 μm (optimizado para tecnología de 10–25 μm)
  • Modo: combina verificación virtual (imágenes AOI postprocesadas) y física (vídeo en directo)
  • Procesamiento de imagen: algoritmos de mejora de imagen basados en IA para filtrar falsas alarmas y mostrar imágenes de defecto en color de alta resolución mejoradas por IA
  • Integración: integración fluida con base de datos y feedback QA
  • Interfaz de operador: pantalla táctil opcional para clasificación de defectos
  • Características mecánicas: mesa de vacío fija, diseño ergonómico, iluminación de vídeo ajustable
  • Calibración: zoom variable y calibración automatizada
  • Compatibilidad: compatible con todos los sistemas AOI CIMS

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* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.