Visión generalEl sistema de sputtering magnetrón con doble cámara piriforme DXJ-560S es una plataforma compacta para I+D y producción en pequeños lotes de películas delgadas: monocapas y multicapa funcionales a escala nanométrica, recubrimientos duros, películas metálicas, semiconductoras y dieléctricas. El sistema integra una cámara de vacío piriforme, múltiples dianas magnetrón, porta‑sustratos rotatorio refrigerado por agua, cámara de carga de muestras, horno de recocido y subsistemas completos de vacío, gases y control electrónico.
Composición- Cámara principal de sputtering piriforme
- Dianas magnetrón permanentes (5 dianas, Ø60 mm)
- Portasustratos rotatorio refrigerado por agua (placa rotativa), 6 estaciones
- Cámara de inyección/carga de muestras y módulos de cámara de muestras
- Horno de recocido integrado
- Módulo de diana de enjuague trasero (backwash)
- Dispositivo magnético de transferencia de muestras
- Circuito de gas de trabajo con controladores de flujo másico
- Sistema de bombeo (bombas moleculares y mecánicas)
- Armario(s) de instalación/control
- Sistema de medida de vacío y control electrónico con interfaz informática
Especificaciones técnicas- Modelo: DXJ-560S
- Cámara principal: Cámara piriforme Ø560 × 350 mm
- Cámara de inyección: Cilíndrica horizontal Ø250 × 420 mm
- Configuración de vacío: Unidades de bomba molecular y bomba mecánica independientes para cámara principal y cámara de muestras
- Presión última (después de horneado y desgasificado): Cámara principal 6.67×10^-6 Pa; Cámara de muestras ≤6.67×10^-4 Pa
- Tiempo de recuperación de vacío (tras breve exposición al aire y purga seca): Cámara principal a 6.6×10^-4 Pa en ~40 min; Cámara de muestras a 6.6×10^-3 Pa en ~40 min
- Dianas magnetrón: Cinco dianas permanentes Ø60 mm (una apta para material magnético); compatible con sputtering RF y DC; distancia objetivo‑muestra ajustable 40–80 mm
- Portasustratos: 6 estaciones (una estación para el módulo calefactor), acepta sustratos Ø30 mm hasta 6 piezas
- Movimiento: Rotación 0–360° adelante/atrás
- Calentamiento de substrato (porta): Máx. 600 ℃ ±1 ℃
- Polarización negativa del substrato: −200 V
- Circuito de gases: Controladores de flujo másico, 2 canales
- Módulos de cámara de muestras: Carga de muestras (6 muestras por carga), horno de recocido (temp. máx. substrato 800 ℃ ±1 ℃), módulo backwash
- Transferencia magnética: Para mover muestras entre cámara de sputtering y cámara de muestras
- Control por ordenador: Controla rotación de muestra, compuertas y confirmación de posición de dianas
- Espacio requerido: Equipo principal 2600 × 900 mm²
- Armarios eléctricos: 700 × 700 mm² (2 unidades)
Aplicaciones- I+D en laboratorio para películas finas y recubrimientos multicapa
- Prototipado y producción en pequeños lotes de recubrimientos ópticos, electrónicos, semiconductores y protectores
- Deposición de películas duras, metálicas, dieléctricas y magnéticas
Opciones y servicios- Modos RF/DC y configuraciones de dianas personalizables
- Adaptación a otros tamaños de sustrato o sujeciones bajo demanda
- Actualizaciones opcionales de vacío, bombas y paquete de gases
- Instalación, puesta en marcha y formación de operadores disponibles
Control e implantación- Control informático integrado para reproducibilidad de procesos
- Monitorización de vacío, flujos de gas y temperatura del substrato
- Huella compacta para entornos de laboratorio; equipo principal 2600 × 900 mm²